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手持式回路電阻測(cè)試儀使用方法

點(diǎn)擊次數(shù):37 更新時(shí)間:2025-04-18

手持式回路電阻測(cè)試儀使用方法

一.儀器接線

DL/T 596-2005電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程DL/T 845.4-2004電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件第4部分:回路電阻測(cè)試儀等相關(guān)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的要求,對(duì)各種斷路器、隔離開(kāi)關(guān)設(shè)備接觸電阻的測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。

對(duì)此,我公司設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)出新一代大電流輸出微歐級(jí)電阻測(cè)試的手持儀器,其適用于測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備主觸頭的接觸電阻,高低壓電纜線路的直流電阻值等,大大減輕了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。

                                          



將測(cè)試儀的Ⅰ、U +、U-、Ⅰ端子與試品采用圖6.1所示的四端法接線,試驗(yàn)接線簡(jiǎn)單方便。

                                                                


                                                      圖片1.png

 

二、手持式回路電阻測(cè)試儀使用操作說(shuō)明

7.1當(dāng)儀器按要求接好測(cè)試線,打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),液晶顯示主菜單,如下圖所示:

                                                

圖片2.png

7.2開(kāi)始測(cè)試

主菜單界面下,按<F1>鍵進(jìn)入高壓開(kāi)關(guān)接觸電阻試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面,液晶顯示如下圖所示:

                                                                

圖片3.png

高壓開(kāi)關(guān)接觸電阻試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面,按<>、<><SEL>鍵選擇修改選項(xiàng),按<>、<">鍵修改某位數(shù)據(jù);

其中:試驗(yàn)電流—是指輸出的測(cè)試電流;

預(yù)置100A/50A

試驗(yàn)時(shí)間可選擇Auto、15s、30s、45s、60s。

試驗(yàn)相別—是指將要測(cè)試的相別;

預(yù)置A相/B相/C相/N相/ABC相。

試驗(yàn)部位—可選擇分閘、合閘。

試品類(lèi)別—可選擇少油、多油、真空、SF6、GIS、隔離。

試品編號(hào)—是指用于區(qū)分不同被測(cè)試品的編號(hào),以便于在歷史記錄中查詢(xún)和技術(shù)管理。

當(dāng)參數(shù)修改為滿(mǎn)足試驗(yàn)需要時(shí),按<8 >鍵進(jìn)入測(cè)量狀態(tài),液晶顯示如下提示:

                                                     

圖片4.png

當(dāng)測(cè)試完成后,按<F2>鍵進(jìn)行試驗(yàn)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ);不進(jìn)行任何操作可直接按<:>鍵,并等待返回至高壓開(kāi)關(guān)接觸電阻試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面。

 

7.3歷史記錄

主菜單下按<F2>鍵進(jìn)入歷史記錄界面,液晶顯示如下圖所示:

                                                            

圖片5.png

當(dāng)測(cè)試完成后,按<F2>鍵進(jìn)行試驗(yàn)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ);不進(jìn)行任何操作可直接按<:>鍵,并等待返回至高壓開(kāi)關(guān)接觸電阻試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面。

 

7.3歷史記錄

主菜單下按<F2>鍵進(jìn)入歷史記錄界面,液晶顯示如下圖所示:

                                                         

圖片6.png

歷史記錄界面,按<>、<>鍵來(lái)選擇要查詢(xún)的歷史記錄。

歷史記錄界面,按<8 >鍵可在試驗(yàn)參數(shù)試驗(yàn)數(shù)據(jù)之間切換顯示。

歷史記錄界面,同時(shí)按下<SEL>和<8 >鍵,可以刪除全部歷史數(shù)據(jù)。

歷史記錄界面,按<F2>鍵,可將歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入優(yōu)盤(pán)進(jìn)行存儲(chǔ)。

日期時(shí)間設(shè)置界面下,按<>、<>鍵選擇相應(yīng)設(shè)置位,按<>、<">鍵修改相應(yīng)設(shè)置位的數(shù)據(jù)。修改為需要的日期和時(shí)間后,按下<8 >鍵,保存相應(yīng)設(shè)置并返回主菜單。

 

7.5背光關(guān)機(jī)設(shè)置


主菜單下按圖片8.png鍵進(jìn)入背光關(guān)機(jī)設(shè)置界面,液晶顯示如下圖所示:

                                               

圖片7.png


 

背光關(guān)機(jī)設(shè)置界面下,<SEL>鍵切換選項(xiàng);<>、<">鍵修改相應(yīng)選項(xiàng)的數(shù)值。背光亮度的調(diào)整范圍:163;背光時(shí)間和關(guān)機(jī)時(shí)間的調(diào)整范圍:160。當(dāng)修改為需要的數(shù)值后,按下<8 >鍵,保存相應(yīng)設(shè)置并返回主菜單。

 

7.6儀器校準(zhǔn)設(shè)置

主菜單下按<F4>鍵進(jìn)入儀器校準(zhǔn)設(shè)置界面。本儀器出廠前已進(jìn)行校準(zhǔn),用戶(hù)無(wú)需操作。

三.手持式回路電阻測(cè)試儀使用注意事項(xiàng)

8.1使用本儀器前一定要認(rèn)真閱讀本手冊(cè)。

8.2儀器的操作者應(yīng)具備一般電氣設(shè)備或儀器的使用常識(shí)。

8.3本儀器戶(hù)內(nèi)外均可使用,但應(yīng)避開(kāi)雨淋、腐蝕氣體、塵埃過(guò)濃、高溫、陽(yáng)光直射等場(chǎng)所。

8.4對(duì)儀器的維修、護(hù)理和調(diào)整應(yīng)由專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行。

8.5在測(cè)試過(guò)程中,禁止移動(dòng)測(cè)試夾和供電線路。

8.6在測(cè)試過(guò)程中,當(dāng)儀器輸出電流時(shí),切不可拆除測(cè)試線,以免發(fā)生事故。

8.7儀器連續(xù)測(cè)試次數(shù)較多時(shí),儀器發(fā)熱會(huì)自動(dòng)保護(hù),電流無(wú)輸出,此時(shí)應(yīng)停幾分鐘再測(cè)。

8.8儀器在無(wú)操作狀態(tài)下,1分鐘進(jìn)入待機(jī)狀態(tài),10分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)默認(rèn)設(shè)置。